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X射線熒光光譜儀是一種重要的分析儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。其原理基于物質(zhì)在受激輻射下產(chǎn)生特定能量的熒光現(xiàn)象。當(dāng)樣品暴露于高能X射線束時(shí)，內(nèi)部原子被激發(fā)并躍遷到較高能級(jí)。隨后，這些原子會(huì)釋放出X射線能量，并以特定的頻率進(jìn)行熒光發(fā)射。光譜儀通過(guò)收集和分析這些發(fā)射的X射線能量，可以確定樣品中元素的成分和濃度。X射線熒光光譜儀具有許多優(yōu)勢(shì)。首先，它是非破壞性的分析方法，樣品在測(cè)試過(guò)程中不需要?dú)幕蚋淖兤湫螒B(tài)。這使得可以對(duì)寶貴的或難以獲取的樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。其...

X射線熒光光譜儀是一種常用的分析儀器，利用X射線的特性，通過(guò)測(cè)量樣品中發(fā)射的熒光X射線能譜，分析樣品的元素成分和結(jié)構(gòu)信息?；赬射線的特性進(jìn)行分析。當(dāng)X射線照射樣品時(shí)，樣品中的原子會(huì)吸收X射線的能量，激發(fā)內(nèi)層電子躍遷至高能級(jí)，形成空位。隨后，樣品中的其他電子會(huì)填補(bǔ)這些空位，釋放出熒光X射線。X射線熒光光譜儀通過(guò)測(cè)量這些熒光X射線的能譜，可以確定樣品中的元素成分和結(jié)構(gòu)信息。以下是對(duì)X射線熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)進(jìn)行分析：1、非破壞性分析：是一種非破壞性分析方法，不需要對(duì)樣品進(jìn)行物理或化...

新品優(yōu)惠來(lái)啦！馬爾文帕納科生命科學(xué)類儀器，購(gòu)買差式掃描熒光儀SUPR-DSF，贈(zèng)送Zetasizer納米粒度電位儀！購(gòu)買分子互作或穩(wěn)定性分析儀器套裝，享最高優(yōu)惠200萬(wàn)元！更多優(yōu)惠，掃描下方二維碼了解詳情！關(guān)于MalvernPanalytical馬爾文帕納科由英國(guó)馬爾文儀器（Malvern）和荷蘭帕納科（PANalytical）合并而成，屬于思百吉集團(tuán)的主要平臺(tái)公司，是材料表征領(lǐng)域的專家及多項(xiàng)創(chuàng)新技術(shù)的發(fā)明者。公司擁有在業(yè)內(nèi)享有盛名的顆粒表征、分子結(jié)構(gòu)、微量熱和X射線分析技術(shù)...

納米粒度電位儀是一種用于測(cè)量納米顆粒表面電位的儀器。納米顆粒的表面電位是指顆粒表面帶電的程度，是影響顆粒穩(wěn)定性和相互作用的重要因素。納米粒度電位儀通過(guò)測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度和方向，來(lái)計(jì)算顆粒表面電位的大小和符號(hào)，從而了解顆粒的穩(wěn)定性和相互作用機(jī)制?；陔妱?dòng)力學(xué)原理進(jìn)行測(cè)量。當(dāng)納米顆粒懸浮在液體中時(shí)，其表面帶有電荷。通過(guò)測(cè)量納米顆粒在電場(chǎng)中的運(yùn)動(dòng)速度來(lái)推斷其尺寸。較大的顆粒由于慣性效應(yīng)而具有較快的運(yùn)動(dòng)速度，而較小的顆粒由于受到溶劑分子的碰撞而具有較慢的運(yùn)動(dòng)速度。通過(guò)分析納米...

-新品發(fā)布會(huì)-FORJ火蠑-高精度高通量熔樣機(jī)高效、可靠、0污染六項(xiàng)全新z利技術(shù)為熔融制樣用戶帶來(lái)全新體驗(yàn)，樣本制備更高效、更可靠，且杜絕批次間污染及環(huán)境污染，為高精度元素分析打下堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。發(fā)布會(huì)日期：2023年6月20日（周二）報(bào)告時(shí)間：15:00-16:00發(fā)布會(huì)類型：網(wǎng)絡(luò)直播，需提前掃碼注冊(cè)01歷史沿革加拿大Claisse公司（以發(fā)明熔融技術(shù)的FernandClaisse博士名字命名，1976年成立于加拿大魁北克），在熔融前處理這個(gè)極其細(xì)分的領(lǐng)域具有無(wú)可置疑的地位。其...