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X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應力,進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是:當一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互...
x射線熒光光譜儀是利用初級X射線光子或其他微觀離子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)而進行物質(zhì)成分分析和化學態(tài)研究的方法。按激發(fā)、色散和探測方法的不同,分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。x射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級X射線。它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大,用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。通過測角器以1∶...
高分辨率X射線衍射(HRXRD)是一系列應用技術(shù),用于對大多數(shù)幾乎的分層結(jié)晶結(jié)構(gòu)材料進行無損分析。能夠揭示和量化結(jié)構(gòu)參數(shù),對于成功應用這些材料是至關重要的。目前,大多數(shù)現(xiàn)代半導體器件結(jié)構(gòu)是在由硅、硅鍺、III-V和II-VI化合物制成的基體上氣相外延生長而成的。這些薄膜是幾乎的晶體薄膜,具有相對較低的位錯密度。薄膜性能很大程度上取決于它們的成份和結(jié)構(gòu)參數(shù)。通過使用高分辨率X射線光學系統(tǒng)測量搖擺曲線和倒易空間圖來獲得諸如層厚度、成份、應力、張馳度和結(jié)構(gòu)質(zhì)量的信息。通過X射線衍射...
量熱法是測量化學反應或物理事件所引起熱量變化的一種技術(shù)。量熱法所依賴的事實是,所有化學反應都涉及能量變化,通常伴有熱量釋放(放熱)或熱量吸收(吸熱)。與量熱法相比,微量熱法的靈敏度超高,可測定少量樣品中極細微的熱量變化,從而使其適合用于生物材料。微量熱法用于研究涉及生物分子的反應,包括分子間的相互作用以及蛋白質(zhì)折疊之類的構(gòu)象變化。應用范圍覆蓋從在小分子藥物發(fā)現(xiàn)過程中確認預期結(jié)合靶標到開發(fā)穩(wěn)定性生物治療藥物的多個領域。這些生物學過程通常采用兩種量熱技術(shù)進行研究:等溫滴定量熱法(...
X射線衍射儀的原理:x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近,晶體可以作為X射線的空間衍射光柵,即一束X射線照射到物體上時,受到物體中原子的散射,每個原子都產(chǎn)生散射波,這些波互相干涉,結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強度在某些方向上加強,在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果,便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。以上是1912年德國物理學家勞厄(M.vonLaue)提出的一個重要科學預見,隨即被實驗所證實。1913年,英國物理學家布拉格父子(W.H.Bragg,W.L.Bragg)在勞厄發(fā)現(xiàn)...
Zeta電位儀是由新型的光學系統(tǒng)、電泳池、數(shù)據(jù)采樣和數(shù)據(jù)處理等部分組成,實現(xiàn)了由PC個人微機對采樣模塊的控制及后期數(shù)據(jù)處理的一體化設計,與其它同類產(chǎn)品相比,它具有更多的優(yōu)異性能。Zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固-液界面電性(ζ電位),也可用于測量乳狀液液滴的界面電性,也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定粉體的Zeta電位,從pH-Zeta電位關系圖上求出等電點,是認識粉體表面電性的重要方法,在粉體表面處理中也是重要的手段。與國內(nèi)外其它同類型儀器相比,...