當(dāng)前位置:首頁 > 技術(shù)文章
X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力,進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是:當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時,由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互...
本文摘要國家發(fā)改委于2005年發(fā)布了《工業(yè)用精對苯二甲酸粒度分布的測定激光衍射法》的中華人民共和國石油化工行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SH/T1612.8-2005。本文報告了使用馬爾文帕納科MS3000激光粒度儀按照標(biāo)準(zhǔn)方法對PTA樣品所進行的實驗過程,結(jié)果符合標(biāo)準(zhǔn)要求。對苯二甲酸PTA是重要的化工產(chǎn)品,主要用于生產(chǎn)聚酯和增塑劑。而粒度分布是其重要的產(chǎn)品指標(biāo)。根據(jù)《工業(yè)用精對苯二甲酸粒度分布的測定激光衍射法》的中華人民共和國石油化工行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SH/T1612.8-2005。馬爾文帕納科MS300...
納米粒度電位儀是一種用于化學(xué)領(lǐng)域的分析儀器,主要用于測量納米級和亞微米級固體顆粒、乳液的粒度分布以及Zeta電位。通過動態(tài)光散射(DLS)等技術(shù),該儀器能夠準(zhǔn)確、快速地分析樣品的粒徑大小和分布,同時測定顆粒表面的Zeta電位,從而了解顆粒的穩(wěn)定性和表面電荷情況。納米粒度電位儀利用動態(tài)光散射原理,通過測量散射光的強度和波動來推算顆粒的粒徑大小和分布。當(dāng)激光束照射到顆粒樣品上時,顆粒會散射光,散射光的強度與顆粒的大小和數(shù)量有關(guān)。通過分析散射光的波動情況,可以得到顆粒的粒徑分布信息...
納米粒度電位儀是一種高度專業(yè)化的分析儀器,廣泛應(yīng)用于化學(xué)、生物學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)工程、環(huán)境科學(xué)技術(shù)及資源科學(xué)技術(shù)等多個學(xué)科領(lǐng)域。主要用于測量納米級和亞微米級顆粒的粒徑分布以及顆粒表面的Zeta電位。通過測量粒徑分布,可以了解顆粒的大小、形狀和分散性,這對于評估顆粒的穩(wěn)定性和性能至關(guān)重要。而Zeta電位的測量則有助于了解顆粒表面的電荷性質(zhì),從而推斷顆粒之間的相互作用和分散穩(wěn)定性。以下是納米粒度電位儀操作指南的具體內(nèi)容:1、準(zhǔn)備工作檢查電源與連接:確保儀器的電源線連接正常,避免因...
激光粒度分布儀是一種集光、機、電、計算機為一體的高科技產(chǎn)品,工作原理基于光散射原理。當(dāng)激光照射到顆粒上時,會產(chǎn)生衍射和散射現(xiàn)象。不同粒徑的顆粒會產(chǎn)生不同的散射光分布,通過檢測這些散射光的分布,可以反推出顆粒的粒徑分布。具體來說,激光粒度分布儀通過收集和分析散射光的信號,來確定顆粒的大小分布。激光粒度分布儀通常由激光器、樣品池、光學(xué)系統(tǒng)、探測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等部分組成。激光器發(fā)出的激光經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)聚焦后,照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學(xué)系統(tǒng)收集,并聚焦到探測器上。探測...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的粒徑測試報告中的的參數(shù)都有哪些,都代表了什么含義?今天我們一次性給大家解釋清楚。如下圖所示,Zetasizer的粒徑測試報告的形式分為三個部分:SampleDetail樣品細(xì)節(jié)SizeDistributionbyIntensity光強分布圖和Correlogram相關(guān)圖StatisticsTable測試結(jié)果統(tǒng)計表如上圖,在粒度測試報告SampleDetail區(qū)域中,加粗的參數(shù)含義如下:SampleName:樣品名稱ProjectN...