對于含有非晶成分的樣品來說，XRD測試的目的往往不僅在于分析出各結晶物相的相對含量（即常規(guī)物相定量方法），還希望能夠得出非晶相在樣品中的含量，即結晶度分析，一般來說， “結晶度”主要指樣品中結晶部分的質量占材料總質量的百分比 ，即100% - 非晶物相百分含量。

值得注意的是與上述提到的結晶度含義不同，“結晶度”有時也用于量化或分級表征相關材料晶格周期性的理想程度，也就是結晶的完美程度、晶體結構缺陷的類型與程度。或用“有序度”來表述，這種情況下關心的不再是非晶物相的含量，而是結晶物相的結晶完美程度，此種意義上的“結晶度”可以用衍射峰半高寬等參數(shù)進行表征。比如伊利石的結晶度有時用Weaver指數(shù)來表征，其值為伊利石1nm的衍射峰在1nm處的強度與1.5nm處的強度的比值，指數(shù)越大結晶度越好。

我們將通過兩次推文分別介紹基于全倒易空間X射線散射守恒原理或Rietveld全譜圖擬合的定量計算方法這兩個通用原理指導下，馬爾文帕納科Highscore(Plus)軟件四種結晶度分析方法，這里的結晶度含義均指前者，即結晶部分的質量在材料中的百分比。用戶可根據(jù)標樣情況、樣品特性、依據(jù)標準等不同情況選擇適合自己的結晶度分析方法。

對一個給定的原子集合體,則不論其凝聚態(tài)如何(如非晶固態(tài)、晶態(tài)、不同取向態(tài)或不同晶相與非晶相的混合態(tài)等)，當受到相同強度的X射線照射時，其相干散射在全倒易空間里總值保持守恒。換言之，樣品相干散射的總量僅與受照射體積內物質的原子種類與總數(shù)有關，與物質的結構無關。

下文中的第一、二種方法依據(jù)原理為上述全倒易空間X射線散射守恒原理，由于此原理的前提是給定的原子結合體（即化學組成相同）與x射線照射強度相同，因此下文中前兩種結晶度分析方法的適用前提均為結晶物相與非晶物相的化學組成必須相同，且結晶相與非晶相的測試條件完全一致。

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X'Pert3 MRD/XL適用于各類型薄膜的X射線分析，所涉及的典型材料有半導體、金屬合金、介電材料和化合物等。MRD/XL可以表征這些材料的如下屬性：層厚、晶相和合金成分、應力、結晶度、密度和界面形態(tài)等等。